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La estrategia de diseo en la cual los mdulos existentes se conectan entre s para formar subsistemas, y estos se conectan con otros subsistemas es conocido como diseo bottom-up Su respuesta : Verdadero Correcto
El paso del diseo en ASICs donde se realiza la distribucin de las celdas dentro de un bloque, es conocido como: Su respuesta : Colocacin Correcto
Este tipo de preguntas consta de un enunciado, problema o contexto a partir del cual se plantean cuatro opciones numeradas de 1 a 4, el estudiante debe seleccionar la combinacin de dos ms opciones que responda adecuadamente a la pregunta y marcarla en la hoja de respuesta, de acuerdo con la siguiente informacin: Marque A, si 1 y 2 son correctas. Marque B, si 1 y 3 son correctas. Marque C, si 2 y 4 son correctas Marque D, si 3 y 4 son correctas
De acuerdo a lo anterior, dos de las caractersticas que presenta un diseo Full Custom respecto al diseo Standard Cell son: 1. 2. 3. 4. Bajo costo Bajas prestaciones rea reducida El layout se optimiza a mano
Modelo de concurrencia
El hardware es por definicin concurrente, en ltima instancia cualquier dispositivo digital est formado de un mar de puertas lgicas, todas ellas funcionando en paralelo. El elemento bsico que ofrece VHDL para modelar paralelismo es el proceso (process). Un proceso puede entenderse como un programa, se compone de sentencias, puede llamar a subprogramas, puede definir datos locales, etc. En general, un proceso describe un comportamiento y el cdigo que contiene se ejecuta de forma secuencial. Pero todos los procesos contenidos en una descripcin VHDL se ejecutan de forma paralela. Desde este punto de vista un modelo VHDL puede entenderse como un mar de programas secuenciales ejecutndose de forma paralela. De hecho cualquier descripcin VHDL es transformada en un conjunto de procesos concurrentes equivalentes, y este mar de procesos concurrentes es la informacin de entrada del simulador. Modelo de tiempo Una de las finalidades del modelado en VHDL del hardware es poder observar su comportamiento a lo largo del tiempo (simulacin). El concepto de tiempo es fundamental para definir cmo se desarrolla la simulacin de una descripcin VHDL. La simulacin de un modelo VHDL es una simulacin dirigida por eventos. Esto significa que el simulador mantiene unas listas de eventos (cambios en las seales internas del modelo y tambin de las entradas y salidas) que se han de producir a lo largo del tiempo de simulacin. Como el comportamiento del modelo es estable mientras no se produzca un evento, la tarea del simulador consiste en avanzar el tiempo de simulacin hasta el siguiente evento y calcular sus consecuencias sobre la lista de eventos futuros.
usuario). La optimizacin de una estructura PLD o CPLD implica la simplificacin de las expresiones lgicas a una suma mnima de trminos producto, adems tambin se optimiza el nmero de literales. Para ello se utilizan tcnicas de simplificacin de la forma cannica en una suma de trminos producto. La optimizacin para FPGAs tpicamente requiere que la lgica se exprese en factores comunes que se puedan utilizar en diferentes partes del diseo. Ajuste El ajuste es el proceso por el que se toma la lgica producida por la sntesis y la optimizacin y se "coloca" en un dispositivo lgico, transformando la lgica (en caso de ser necesario) para obtener el mejor ajuste. Ajuste es un trmino utilizado habitualmente para describir el proceso de colocar los recursos en arquitecturas del tipo CPLD. Cuando la arquitectura es una FPGA el proceso se suele denominar ruteo y colocacin, ya que se colocan bloques lgicos en diferentes clulas del FPGA y posteriormente se interconectan entre s o hacia bloques de entrada/salida. El proceso de ajuste en un CPLD puede ser complejo, ya que el modo en que la lgica se puede poner en un dispositivo concreto suele ser variado.
La etapa en la cual implica simplificar de expresiones lgicas es conocida como: Su respuesta : Optimizacin Correcto
que pueden implementar las operaciones. Esto se realiza mediante dos procesos: scheduling y binding. El proceso de scheduling consiste en determinar el orden en que se realizaran las operaciones y el proceso de binding consiste en repartir las operaciones entre los recursos disponibles. Estos dos procesos se realizan iterativamente dentro de un bucle de optimizacin en el que se fijan como objetivos, bien realizar las operaciones con el mnimo nmero de recursos posible, bien realizarlas en el menor tiempo posible, bien un compromiso entre ambos. Como vemos, la principal caracterstica del proceso de sntesis es la existencia de mltiples soluciones.
De acuerdo a la lectura anterior, seleccione la afirmacin correcta: Su respuesta : La sntesis de alto nivel se realiza para identificar los recursos de hardware necesarios para implementar en las operaciones. Correcto
Procedimiento de test
Las pruebas de fabricacin se pueden clasificar en tres categoras segn la meta perseguida: Test diagnstico. Se utiliza durante la depuracin de un chip o tarjeta y su objetivo es, dado un componente errneo, identificar y localizar el fallo. Test funcional (test go/no go). Determina si un componente fabricado es o no funcional. Este problema es ms simple que el del test diagnstico, ya que la respuesta buscada es un s o un no. Este test se aplica a cada componente fabricado, por lo que es exigible que sea lo ms simple y rpido posible. Test paramtrico. Verifica el cumplimiento de las especificaciones de un conjunto de parmetros no discretos (mrgenes de ruido, retardos de propagacin o frecuencias mximas de reloj) bajo una variedad de condiciones de trabajo, tales como diferentes temperaturas y tensiones de alimentacin. Los tests paramtricos se subdividen a su vez en estticos y dinmicos.
El test paramtrico verifica el cumplimiento de las especificaciones de un conjunto de parmetros no discretos (mrgenes de ruido, retardos de propagacin o frecuencias mximas de reloj) por lo tanto se exige que sea lo ms rpido y simple posible. Su respuesta : Falso Correcto
Los circuitos secuenciales son observables fcilmente y no requieren de tcnicas DFT Su respuesta : Falso Correcto
Dado un proceso de fabricacin en el que se producen N circuitos integrados de los que Nv son vlidos, definimos rendimiento del proceso Y (yield) como N v / N. La modelizacin del rendimiento de un proceso ha sido un tema de investigacin durante muchos aos, y el modelo ms sencillo (1960) se fundamenta en una distribucin de Poisson de defectos puntuales en el rea del chip (A), idntica a lo largo de toda la superficie de la oblea. En esta situacin, y suponiendo que un defecto puntual siempre produce un fallo en el comportamiento del chip, el rendimiento de fabricacin de un chip de rea A se obtiene de la probabilidad de que en un proceso estadstico de Poisson no haya ningn defecto, es decir: Y = Nv / N = exp(- Do A)
donde Do es el parmetro de la distribucin que define la densidad de defectos del proceso de fabricacin. Este parmetro puede cambiar con el tiempo, y es relativamente alto cuando el proceso es nuevo y va disminuyendo a medida que el proceso se hace maduro. De la ecuacin del rendimiento podemos concluir que: Su respuesta : Si el parmetro Do es muy grande, entonces el rendimiento es bajo. Correcto