Espectrometra atmica de rayos X

Emisin de rayos X: en la emisin los rayos X se

obtienen de 4 maneras: bombardeo de un blanco metlico
con un haz de electrones de elevada energa, por
exposicin de una sustancia a un haz primario de rayos x
con el objetivo de generar un haz secundario de
fluorescencia de rayos x, utilizando una fuente radiactiva
cuyo proceso de desintegracin da lugar a una emisin de
rayos X2 y a partir de una fuente de radiacin sincrotrn.
Espectros continuos
La radiacin contina de una fuente de haz de electrones
es el resultado de las colisiones entre los electrones del
haz y los tomos del material sobre el que incide dicho
haz.
Espectros de lneas de fuentes de haces de
electrones
Una segunda caracterstica de los espectros de rayos x es
que el potencial de aceleracin mnimo necesario para la
excitacin de las lneas de cada elemento aumenta con el
numero atmico.
Espectros de absorcin
Cuando un haz de rayos x se hace pasar a travs de una
fina pelcula de materia, su intensidad o potencia
disminuye, generalmente como consecuencia de la
absorcin y dispersin. El efecto de dispersin para todos
los elementos excepto por los ms ligeros, es
normalmente pequeo y se puede despreciar en aquellas
regiones de longitud de onda donde tiene lugar una
absorcin apreciable.
Proceso de absorcin
En este proceso, la energa total hv de la radiacin se
divide entre la energa cintica del electrn (el
fotoelectrn) y la energa potencial del ion excitado. La
probabilidad ms alta de absorcin tiene lugar cuando la
energa del fotn es exactamente igual a la energa
necesaria para llevar un electrn justo a la periferia del
tomo (es decir, la energa cintica se acerca a cero para
el electrn expulsado.

electrn saliente hay una diferencia de energa, la cual se

emite en forma de radiacin de rayos X. Precisamente,
este proceso de emitir rayos X es conocido como
fluorescencia de rayos X. El fotn de rayos X emitido
tendr una energa especfica igual a la diferencia entre las
dos energas de enlace de un electrn de las capas interna
y adyacente, y esta energa es nica para cada elemento.
Ventajas
Entre sus ventajas, podemos destacar que su campo de
aplicacin es para cualquier elemento de nmero atmico
mayor que 4 (berilio). Su simplicidad reside en que el
espectro de emisin de rayos X es muy sencillo de obtener
y de interpretar, por lo que la posicin de las lneas no
depende del tipo de compuesto ni por el estado fsico que
presente. Las interferencias espectrales son relativamente
infrecuentes, aunque hay que considerar los posibles
efectos de analticas.
Se trata de un mtodo no
destructivo en el sentido de que la muestra no sufre daos
durante el anlisis. Es adems no destructivo en el sentido
de que frecuentemente no es necesaria la toma de
muestras, por lo que el equipo puede ser dispuesto para
acomodar objetos de grandes dimensiones.
Desventajas
Entre sus desventajas se encuentra la necesidad de utilizar
patrones generalmente de alto costo, aunque no se
deterioran adems existe cierta problemtica en los
elementos ligeros por su baja debida a fenmenos de
absorcin, el costo de la instrumentacin es bastante
elevado por que requiere equipos adicionales (molinos,
hornos, etc.) para la preparacin de la muestra,
componentes y accesorios caros.

Proceso de absorcin msico

Para deducir la expresin que describe el decremento de
los fotones, donde se involucra el coeficiente de absorcin
cuando atraviesa un espesor de materia x, partimos de
la ley de Lambert que dice que camino iguales en el
mismo medio de absorcin, atena fracciones iguales de
radiacin. Entonces una fraccin de la intensidad ser
proporcional a una porcin de la materia que ya se ha
recorrido x.

Difraccin rayos X
Es una tcnica que permite determinar la estructura
detallada de un material, es decir conocer la posicin de
los iones, molculas y tomos que lo forman. debido a este
ordenamiento es que se pueden determinar propiedades
tanto fsicas como qumicas de los materiales. la
interaccin de los r-x con la materia esencialmente ocurre
mediante dos procesos:
- algunos fotones del haz incidente son desviados sin
prdida de energa, constituyen la radiacin dispersada
exactamente con la misma longitud de onda, que la
radiacin incidente(es la que origina el fenmeno de la
difraccin).
- otros fotones son dispersados con una pequea prdida
de energa: constituyen la radiacin compton ( aumento
de la longitud de onda de un fotn cuando choca con
un electrn libre y pierde parte de su energa) con longitud
de onda ligeramente mayor que la radiacin incidente.

Fluorescencia de rayos X
Para que se d el proceso de fluorescencia de rayos X,
primero tiene que ocurrir la absorcin fotoelctrica por el
elemento. La absorcin fotoelctrica por la muestra
sucede cuando un fotn altamente energtico proveniente
de una radiacin de rayos X interacta con la materia.
Cuando los tomos de la muestra a analizar absorben esta
alta energa, un electrn de los ms cercanos al ncleo de
las capas internas K o L es expulsado del tomo. En este
proceso de absorcin, parte de la energa del fotn
incidente de rayos X es utilizada para romper la energa de
enlace del electrn interno del elemento y la energa
restante acelera el electrn expulsado. Despus de que el
electrn es expulsado, el tomo queda en un estado
altamente excitado y por lo tanto muy inestable. Para que
se restablezca la estabilidad, los electrones de las capas
adyacentes llenaran el espacio vacante, al pasar un
electrn de otra capa y con una energa diferente al del

Ley De Bragg
Es utilizada porqu permite estudiar las direcciones en las
que la difraccin de rayos X sobre la superficie de
un cristal produce interferencias constructivas, dado que
permite predecir los ngulos en los que los rayos X son
difractados por un material con estructura atmica
peridica (materiales cristalinos).
Cuando un haz de rayos X choca contra la superficie de un
cristal formando un angulo teta, una porcion del haz es
dispersada por la capa de atomos de la superficie. La
porcion no dispersada del haz penetra en la segunda capa
de atomos donde, de nuevo, una fraccion es dispersada y
la que queda pasa a la tercera capa. El efecto acumulativo
de esta dispersion producida por los centros regularmente
espaciados del cristal es la difraccion del haz.
Requisitos para que esto se de: - que el espaciado entre
las capas de atomos sea aproximadamente el mismo que
la longitud de onda de la radiacion. que los centros de

dispersion esten distribuidos en el espacio de una manera

muy regular.
Mtodo De LAUE
Se utiliza un monocristal fijo sobre el cual se hace incidir
un haz de Rayos X blancos en direccin perpendicular a la
placa fotogrfica, ver figura. El haz directo forma una
mancha negra sobre la placa fotogrfica, aunque se suele
poner una chapa de plomo para interceptarlo y que no
forme tal mancha. Cada familia de planos reticulares
formar su mancha caracterstica.
Mtodos De Cristal Mvil
Para ampliar las aplicaciones de la difraccin de los Rayos
X, Bragg consider
que
usando
una
radiacin
monocromtica la nica posibilidad para que se cumpla la
condicin de difraccin para un espaciado determinado, es
variar el ngulo. Esto se consigue colocando el cristal en
un sistema que gire, de tal manera que para cada valor de
que cumpla la condicin de difraccin se produzca un
punto en la pelcula. Con ello se puede saber cules son
los planos reticulares asociados a cada difraccin.

Mtodo De Polvo
Para realizar el difractograma de polvo hay que moler el
material a un tamao de 50 nm. La orientacin de los
microcristales es aleatoria. El porta muestras se hace
girar, segn un ngulo, con el fin de que el haz
monocromtico incida sobre la muestra en un rango que
permita registrar las reflexiones. Cuando un determinado
plano reticular sea capaz de producir reflexiones que
cumplan la condicin de Bragg, se producir una mancha
o un pico en el difractograma, correspondiente a un
determinado valor del ngulo (realmente se considera 2q).
Efecto Matriz
Los rayos X producidos en el proceso de fluorescencia se
generan no solo de los tomos de la superficie de la
muestra sino tambin de los que se encuentran debajo de
ella. As el haz incidente y el haz fluorescente que
atraviesa el espesor la muestra es que puede tener lugar
absorcin y dispersin. La intensidad de la lnea de
respuesta de la muestra depende de la concentracin del
elemento analizado, pero tambin esta se ver afectada
por la concertacin y
los coeficientes de absorcin
msicos de los elementos de la matriz.
Los efectos de la absorcin por la matriz son los
siguientes:
- La matriz contiene una cantidad significativa de
elementos que absorben el haz incidente o el emitido ms
fuete que el elemento a determinar.

- Los elementos de la matriz absorben menos que el

patrn.
- Efecto de intensificacin: consiste en que la contiene
cuyo espectro de emisin caracterstico se exista mediante
el haz incidente y este espectro, as ves se produce una
excitacin secundaria de la lnea analtica.
Se han desarrollado varias tcnicas para los efectos de
absorcin e intensificacin en el anlisis por fluorescencia
de rayos X, estas son:
Calibrado Frente A Patrones
Para que en la relacin de la intensidad de la lnea
analtica y la concentracin, se obtenga buenos
resultados, el patrn debe ser lo ms similar al a
composicin de la muestra.
Adems se considera que los efectos de absorcin y de
intensificacin son idnticos para la muestra y el patrn.
Utilizacin De Patrones Internos
A la muestra como al patrn se le adiciona un elemento a
una concentracin conocida y fija, este elemento aadido
no debe estar presente la muestra original. Como
parmetro analtico se utiliza la relacin de intensidades
entre el analito y el patrn interno, En este caso se supone
que los efectos de absorcin e intensificacin son el mismo
para las dos lneas y el uso de esta relacin compensa
estos efectos.
Disolucin De Las Muestras Y Los Patrones
La muestra como como los patrones se diluyen con una
sustancia que absorba dbilmente los rayos x (nmero
atmico bajo).
Cuando se utiliza un exceso de diluyente, los efectos de la
matriz llegan a ser prcticamente constates para la
muestra y los patrones diluidos, por lo tanto se alcanza
una compensacin adecuada.
El tubo de rayos X
Una fuente de rayos x es un tubo al alto vaco en el que se
instala un ctodo de filamento de wolframio y un nodo
slido. El nodo consta normalmente de un bloque pesado
de cobre con un blanco de metal dispuesto sobre o
empotrado en la superficie del cobre. Los materiales que
constituyen el blanco incluyen metales como wolframio,
cromo, cobre, molibdeno, rodio, escandio, plata, hierro y
cobalto. El circuito de calentamiento permite controlar la
intensidad de los rayos x emitidos mientras que el
potencial de aceleracin determina su energa o longitud
de onda.
Detectores de gas
Cuando la radiacin x pasa a travs de un gas inerte como
el argn, xenn o criptn, tiene lugar interacciones que
producen un gran nmero de iones gaseosos positivos y
de electrones (pares de iones) por cada fotn de rayos x.