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Emilio Prieto
Lugar y fecha de nacimiento: Madrid (Espaa), 3 de Septiembre de 1956.
Formacin: Ingeniero del ICAI en 1981. Ing. Industrial por la Univ. Politcnica de Madrid en
1982 (Revlida). Doctorado (Fsica Aplicada a la Ingeniera) en la misma universidad.
Diploma de Estudios Avanzados en 2003. Tesis sobre Desarrollo de Comparador
Interferomtrico Universal para la calibracin de patrones materializados de longitud.
Carrera Profesional: En 1982 ingresa en la Comisin Nacional de Metrologa y Metrotcnia.
De 1987 a 1994 es responsable del Laboratorio de Metrologa Dimensional de la CNMM.
Desde 1994 es Jefe del rea de Longitud del Centro Espaol de Metrologa.
Experto en metrologa de longitudes, tcnicas de medida y estimacin de
incertidumbres, es miembro del Comit Consultivo de Longitud (CCL) y del de Unidades
(CCU), del Comit Internacional de Pesas y Medidas, persona de contacto sobre Longitud en
EURAMET, organizacin que engloba a los Institutos Nacionales de Metrologa europeos, y
representante de Espaa ante IMEKO, International Measurement Confederation.
Miembro de la International Society for Optical Engineering (SPIE), de la Red
NanoSpain, de los Comits de Metrologa Dimensional de ENAC y CTN82 de AENOR y
Presidente del grupo AENOR GET15 sobre normalizacin en Nanotecnologas.
1. Introduccin
La determinacin cuantitativa de propiedades de micro y nanoestructuras es
esencial en la I+D y un requisito previo para el aseguramiento de la calidad y el control
de procesos industriales. El conocimiento de las dimensiones geomtricas de las
estructuras es la base a la que estn ligadas otras propiedades fsicas y qumicas. La
medicin cuantitativa presupone contar con instrumentos de medida exactos y fiables,
trazados a patrones de nivel metrolgico superior, junto con patrones de calibracin y
procedimientos de medida ampliamente aceptados 1 .
Cualquier nanosistema basado en dispositivos elctricos, pticos, magnticos,
mecnicos, qumicos o biolgicos requiere de medios metrolgicos para caracterizar
parmetros crticos como dimensiones, composicin, rigidez, rugosidad, concentracin
de dopantes, coercitividad magntica y otros. Las nanoestructuras requieren un control
dimensional exacto para garantizar su correcta fabricacin y funcionalidad.
Los sistemas organizados requieren generalmente algn tipo de va de
comunicacin entre dispositivos (hilos, guas pticas, transmisores qumicos, etc.), lo
que a su vez requiere un control exhaustivo del dimensionado y posicionamiento de los
conductos y las interfases. As, un nanotubo de carbono empleado en un circuito
puede generar un circuito abierto, en caso de que sea demasiado corto, o un
cortocircuito en un circuito prximo, en caso de ser demasiado largo 2 .
La nanometrologa, ciencia de la medida aplicada a la nanoescala (< 100 nm)
juega pues un papel esencial en la produccin de nanomateriales y dispositivos
nanomtricos, al permitir determinar no slo dimensiones crticas, con incertidumbres
inferiores al nanmetro, sino fuerzas, masas, propiedades pticas, elctricas y
magnticas, etc. Esta realidad ha sido reconocida por gobiernos, instituciones de
investigacin y el sector privado en todo el mundo. As, la US National Nanotechnology
Initiative ha considerado la investigacin sobre instrumentacin, metrologa y normas
dentro de sus prioridades, definindola como paso crucial para la comercializacin de
la nanotecnologa 3 . Tambin el VIII Informe Nanoforum sobre Nanometrologa 4
apunta en la misma direccin, mostrando a la nanometrologa como el ncleo de la
nanociencia y la nanotecnologa.
La propia Comisin Europea 5 afirma que para que la UE pueda desarrollar todo
el potencial comercial de la nanotecnologa, la industria y la sociedad requieren de
medios de caracterizacin cuantitativa y tcnicas de medicin fiables, tal que
sostengan la competitividad y la confianza en los futuros productos y servicios.
Muchos de los esfuerzos actuales en investigacin no estn teniendo xito ni lo
tendrn si no existen medios para trasladar estas tecnologas al plano industrial. La
infraestructura petrolgica necesaria en todo proceso productivo, es an muy dbil,
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incluso inexistente en algunos casos, por lo que debe darse prioridad al desarrollo de la
nanometrologa 6 , sin la que la revolucin de la nanotecnologa est muerta en el
agua 7 .
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10 Nanometrology, FY 2004/2005 Projects, Clare Allocca, Stephen Freiman, Materials Science and
Engineering Laboratory, Abril 2005.
11 http://www.cemmnt.co.uk/index.php
12 Meas. Sci. Technol. 18 (2007), pgs. 319-696.
13 Industrial Nanometrology - Metrology for the next decade, E. Westkmper, M.R.H. Kraus, Institut fr
Industrielle Fertigung und Fabrikbetrieb, Universitt Stuttgart, Nobelstr. 12, D-70569 Stuttgart.
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14 Australian Government, National Measurement Institute, Technical Report 12, Nanometrology: The
Critical Role of Measurement in Supporting Australian Nanotechnology, Dr John Miles, First edition,
November 2006.
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The metrological infrastructure and the nano word, E. Prieto, 1st NanoSpain
Workshop. 12th March 2004. San Sebastin. Spain.
Leach, R.; Chetwynd D.; Blunt, L.; Haycocks, J.; Harris, P.; Jackson, K.;
Oldfield, S. and Reilly, S. (2006) Recent advances in traceable nanoscale
dimension and force metrology in the UK. Meas. Sci. Technol. 17(3), 467476.
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Brand, U. and Kirchhoff, J. (2005).A micro-CMM with metrology frame for low
uncertainty measurements. Meas. Sci. Technol. 16(12), 24892497.
MNT Roadmap in Metrology, Micro Nano Technology Network, Dr. Alan Smith,
September 2004.
5. Proyectos
Espaa
Pocos proyectos especficos sobre nanometrologa se han abordado en Espaa,
aunque lgicamente en muchos de los no especficos, la medicin y la caracterizacin
constituyen una parte muy importante de los mismos. En lo que respecta al CEM, ste
ha abordado y financiado algunos directamente aplicables al campo nano, en
colaboracin con empresas espaolas; p. ej. :
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piezoelctricos y
subnanomtrica.
sistemas
de
nanoposicionado,
con
incertidumbre
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7. Grupos ms relevantes
Espaa
NanoSpain: http://www.nanospain.org
Europa
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9. Conclusiones y Recomendaciones.
Debe mantenerse una buena base de datos con informacin actualizada sobre
desarrollos en nanometrologa.
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ling
Enab
Enabling
nce &
scie
science
technology
ical
Metrolog
Metrological
tion of
applica
application
ience
basic sc
science
logy
& techno
technology
ental
Experim
Experimental
sation
reali
realisation
ets
Targ
Targets
iggers
Triggers
Tr
2005
2010
Nanostructured standards
over several 100 mm range
2015
Nano force
metrology
Modelling of
functional properties
dependent on
material and
dimension
2020
2025
New sensors/probes
Nanostandards over
sub-mm range
Nanoparticle standards
Nanoparticles: traceable
counting, size, shape and distribution
on 1 nm accuracy level
European micro- and nano-technology is reaching increasing levels of miniaturisation and encountering new issues
of health, production feasibility, quality and efficiency; for control and manuf. on m/nm-scale metrology is needed!
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