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Autoreclosure

Pruebas de ARC para un SIEMENS 7SA511


Ejemplo prctico de uso

OMICRON Test Universe

Versin del manual: Expl_ARC_7SA511.ESP.1 - Ao 2013


OMICRON electronics. Reservados todos los derechos.
Este manual es una publicacin de OMICRON electronics GmbH.
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Este manual representa el estado tcnico existente en el momento de su redaccin. La informacin acerca
del producto, las especificaciones y todos los datos tcnicos contenidos en este manual no son vinculantes
a nivel contractual. OMICRON electronics se reserva el derecho de realizar cambios en todo momento en la
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Hemos hecho todo lo posible para que la informacin que figura en esta publicacin sea a la vez til y exacta.
No obstante, tenga en cuenta de que esta publicacin puede contener errores, y que ni sus autores ni
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en este manual ni por el uso que se pueda hacer de las mismas. El usuario es responsable de cada aplicacin
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ante errores en este manual.
OMICRON electronics traduce este manual de su idioma original ingls a otros idiomas. Cada traduccin de
este manual se realiza de acuerdo con los requisitos locales, y en el caso de discrepancia entre la versin
inglesa y versiones no inglesas, prevalecer la versin inglesa del manual.

ARC

1 ARC
El mdulo de prueba Autoreclosure se usa para probar procesos de recierre
automtico junto con una proteccin de lnea.
Para probar los procesos de recierre automtico (AutoReClosing - ARC), el
mdulo de prueba Autoreclosure emite un cortocircuito ajustable del suministro
elctrico hacia la proteccin de lnea. Los comandos de disparo de la proteccin
y los comandos de cierre del interruptor de potencia (IP) del recierre automtico
se miden e introducen en una simulacin integrada de interruptores de potencia.
Con este mtodo, las seales de corriente y tensin de un tiempo muerto se
simulan en tiempo real y se emiten hacia el equipo en prueba.
El mdulo de prueba Autoreclosure ofrece dos modos de prueba:

Secuencia fallida

Secuencia exitosa

con cualquier nmero de ciclos de recierre (ciclos de AR).


Con cada ciclo de AR, las siguientes magnitudes se evalan y registran
automticamente en un informe de prueba en formato tabular:

tiempo de disparo

modo de disparo (disparo monopolar / tripolar)

tiempo muerto

duracin del cierre de IP

disparo final

Las seales de corriente y tensin, los comandos de disparo y de IP activado,


as como otras seales binarias, se muestran en la oscilografa.

OMICRON Test Universe

Figura 1-1:
Una secuencia tpica
de AR

1.1 Configuracin del mdulo de prueba


Autoreclosure
Inicie el mdulo de prueba Autoreclosure en modo autnomo desde la
OMICRON Start Page haciendo clic en Autoreclosure.

1.1.1

Configuracin del equipo en prueba


Para configurar el rel que est probando, utilice la funcin del software Equipo
en prueba.
Abra Equipo en prueba bien utilizando la opcin del men desplegable
P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic en el icono de
E Q U I P O E N P R U E B A de la barra de herramientas. En el cuadro de dilogo
Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los parmetros del
equipo en prueba.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin 3 Configuracin
del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda en lnea, en la
entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.

ARC

1.1.2

Configuracin del hardware


Haga clic en el icono de Configuracin del hardware de la barra de herramientas
o seleccione C O N F I G U R A C I N D E L H A R D W A R E en el men desplegable
PARMETROS.

Ficha General
Especifique la unidad de prueba que se utiliza en la ficha General.

Ficha Salidas analgicas


Por defecto se seleccionan las tensiones trifsicas y las corrientes trifsicas. Se
puede emitir tambin la tensin de falta y la corriente de falta. Esto permite
probar dispositivos de proteccin que requieren corrientes ms altas.

Ficha Entradas binarias / analgicas


Por defecto, la entrada 1 se asigna al comando de disparo del dispositivo de
proteccin y la entrada 3 al comando IP activado. La seal 2 est preparada
para registrar cualquier otra seal del dispositivo de proteccin. Esta seal se
puede ajustar como "no usada". La seleccin de las seales binarias determina
si la falta se desactiva mediante un disparo tripolar o mediante un disparo
monopolar selectivo de la fase.
Si la falta se va a desactivar con esta ltima opcin, no use el comando de
disparo.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Configuracin del
hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto" o en la ayuda en lnea, en la entrada --- Configuracin
del hardware --- del ndice.

1.1.3

Ajustes de ARC en el mdulo de prueba


Disparo y tiempos
Ajuste en esta ficha el tipo de falta, la tensin de falta, la corriente de falta y el
ngulo entre la tensin y la corriente de falta.
La descripcin de la falta se crea automticamente y puede modificarse. Los
tiempos mximos del comando de disparo y del pulso de AR revisten especial
importancia. Si no se detecta ningn comando de disparo dentro del tiempo
mximo especificado para el comando de disparo una vez emitida la falta, la
prueba se interrumpe. El tiempo muerto comienza en cuanto desaparece el
comando de disparo y termina con la aparicin del comando IP activado. Si un
previsible comando IP activado no se detecta dentro del tiempo mximo
especificado, la secuencia de ejecucin tambin se interrumpe.

OMICRON Test Universe

Secuencia fallida
En esta ficha se puede activar o desactivar la verificacin de la secuencia fallida
y se puede especificar el nmero de ciclos. El ajuste correcto de esta ltima
opcin depende de los ajustes del equipo en prueba. Por ejemplo, si el equipo
en prueba tiene configurados los parmetros para tres intentos de AR (un ciclo
de tiempo muerto corto y dos ciclos de tiempo muerto largo), el nmero de ciclos
tiene que ajustarse en tres.
En esta ficha se definen tambin los eventos a medir y el modo de evaluar cada
ciclo.
Nota: Los volcados de pantalla que aparecen en este manual muestran un
sistema operativo en ingls. Agradeceremos su comprensin.
Figura 1-2:
Parametrizacin de una
prueba de secuencia
fallida columna
"Evento"

El tiempo muerto y el comando IP activado siempre se pueden capturar. Las


seales Disparo, Disparo L1, Disparo L2, Disparo L3 slo se pueden
seleccionar en la columna "Evento" si estas seales estn seleccionadas en la
configuracin del hardware (consulte la figura 1-2).

ARC

En la columna "Modo de evaluar" (consulte la figura 1-3) se pueden seleccionar


los siguientes ajustes:
Slo registrar:

slo se registra el resultado; no se realiza ninguna


evaluacin

Tiempo:

la evaluacin se realiza segn los ajustes de Tnom y Tdesv

Esperado:

la evaluacin es positiva si el evento se produce dentro del


tiempo mximo

No esperado:

la evaluacin es positiva si el evento NO se produce dentro


del tiempo mximo.

Figura 1-3:
Parametrizacin de una
prueba de secuencia
fallida columna "Modo
de evaluar"

El ciclo "Final" est configurado por defecto y no se puede cambiar. Con este
ciclo se prueba el disparo trifsico final y se verifica que no se produce ningn
otro comando IP activado.

OMICRON Test Universe

Secuencia exitosa
En esta ficha se puede activar o desactivar la verificacin de la secuencia
exitosa y se puede especificar el nmero de ciclos. El nmero de ciclos para la
secuencia exitosa debe ser como mnimo 1 e igual o menor que el nmero de
ciclos ajustado para la secuencia fallida.
Los ajustes de los eventos y del modo de evaluar se toman de la secuencia
fallida y no se pueden cambiar aqu.
El ciclo "Final" est configurado por defecto y no se puede cambiar. Con este
ciclo se prueba si no se produce un nuevo disparo.

ARC

1.2 Secuencia de una prueba de AR


La verificacin de un AR correcto y de un AR incorrecto se puede realizar dentro
de una sola secuencia de prueba o mediante secuencias de prueba distintas.
Por defecto ambas pruebas estn activadas.
Para ajustar los parmetros de prueba para las pruebas o para mostrar los
resultados, abra la ficha Secuencia fallida o Secuencia exitosa en la vista
Prueba.
La curva de seal correspondiente a la prueba seleccionada en ese momento
se muestra en la Oscilografa.
Toda prueba empieza por la salida del estado pre-falta.
Despus, se repite la secuencia siguiente con arreglo al nmero de ciclos
especificado.
-

Emisin del estado de falta, en espera de la aparicin del comando de


disparo.

50ms despus de la aparicin del comando de disparo (tiempo de


conmutacin de IP), el estado de falta se desactiva en el siguiente paso por
cero de las corrientes. La tensin y la corriente son cero. Si se indica el
comando de disparo, siempre se efecta un disparo trifsico.

Inicio del tiempo muerto, en espera de la aparicin del comando IP activado.

50ms despus de la aparicin del comando IP activado, la falta se vuelve a


emitir.

La secuencia se interrumpe si no se detecta ningn comando IP activado dentro


del tiempo mximo.
Al probar una secuencia fallida, el estado de falta se emite despus del ltimo
recierre, a fin de probar el disparo trifsico. Transcurrido el tiempo mximo de
disparo, todas las tensiones y corrientes se desactivan.
Al probar la secuencia exitosa, el estado pre-falta (sistema sano) se emite tras
el ltimo recierre, a fin de probar si no aparece ningn nuevo comando de
disparo durante el tiempo mximo de disparo.
Si se activan ambas pruebas, la secuencia fallida se prueba antes que la
exitosa. El tiempo mximo de cierre de IP se usa tambin como tiempo entre la
terminacin de la secuencia fallida y el inicio de la secuencia exitosa.

OMICRON Test Universe

1.3 Ejemplo: Pruebas de ARC para un SIEMENS


7SA511
Se probar la funcin de recierre automtico de la proteccin de un alimentador.
El rel en cuestin es un Siemens 7SA511 con la opcin ARC.
Archivo de muestra: AWE-7SA511.oar
Guardado en: ...Ruta de instalacin de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Protection

Objetivo de la prueba
La funcin de recierre automtico del rel de proteccin est activada. Est
parametrizada para dos ciclos de recierre, un tiempo muerto corto (recierre
automtico rpido) y un tiempo muerto largo (recierre automtico lento).
Nota: En muchos rels de proteccin el primer ciclo de AR se denomina tiempo
muerto corto (recierre automtico rpido) y todos los ciclos subsiguientes se
denominan tiempo muerto largo (recierre automtico lento).
En un primer paso se probar la funcin fundamental del ARC. La verificacin
de los valores de tiempo ajustados tiene lugar en una segunda etapa.

Equipo necesario
1. Unidad de prueba CMC 156 o CMC 256
2. Software de prueba OMICRON Test Universe, versin 1.6 o posterior
3. Manual del rel
4. Conocimiento de los parmetros del sistema y su interconexin
5. Opcional: software Digsi para verificar los ajustes del rel

10

ARC

1.3.1

Ajustes del equipo en prueba


La funcin ARC de un dispositivo de proteccin depende de numerosos
parmetros. El operador de pruebas debe conocer en profundidad el significado
de estos parmetros y de sus ajustes.
En este ejemplo se supone la siguiente parametrizacin:

Frecuencia: 50Hz

Tensin secundaria nominal: 100V

Tensin primaria nominal: 110kV

Corriente secundaria nominal: 5A

Corriente primaria nominal: 1000A

El dispositivo de proteccin se dispara ante una tensin de falta de 0 V y una


corriente de falta del doble de la corriente nominal. En todos los tipos de falta
se efectan dos intentos de AR (1 tiempo muerto corto + 1 tiempo muerto
largo).

Tiempo de bloqueo tras un AR correcto: 3,0s

Tiempo de bloqueo tras un AR incorrecto: 3,0s

Tiempo muerto corto (monopolar): 1,20s

Tiempo muerto corto (tripolar): 0,40s

Tiempo muerto largo (monopolar): 0,80s

Tiempo muerto largo (tripolar): 0,80s

Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba


y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin 3 Configuracin
del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda en lnea, en la
entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.

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OMICRON Test Universe

1.3.2

Prueba de la funcin Recierre


Ajustes del mdulo de prueba
Las tensiones y corrientes nominales se ajustan como parmetros del equipo
en prueba. En la ficha Disparo y tiempos cambie la corriente IL1 a 10A.

Figura 1-4:
Modificacin de la
corriente IL1 en la ficha
Disparo y tiempos

El mdulo de prueba utiliza el tiempo mximo de cierre de IP como tiempo


muerto entre las pruebas relativas a una secuencia fallida y a una secuencia
exitosa. Es por este motivo que el tiempo debe ser mayor que el tiempo de
bloqueo tras un AR incorrecto.
En la primera prueba, los dems ajustes se dejan intactos.
En la ficha Secuencia fallida aumente a 2 el nmero de ciclos.

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ARC

Uso del modo de prueba individual


Con una prueba individual puede verificar rpidamente el funcionamiento del
equipo en prueba. Con el modo de prueba individual se efecta concretamente
la prueba que figura en la ficha seleccionada en ese momento en la vista
Prueba. Los resultados de la prueba no se incorporan al informe de la prueba.
Por ejemplo, el siguiente resultado se obtiene si comienza una prueba individual
mientras est seleccionada la ficha Secuencia fallida:
Figura 1-5:
Resultado de una
prueba individual
correspondiente a la
ficha Secuencia fallida

Este resultado confirma el funcionamiento esencialmente adecuado del equipo


en prueba.

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OMICRON Test Universe

1.3.3

Prueba y evaluacin de los tiempos


En la prueba final se registrarn los comandos de disparo en cada fase y se
verificar que se mantienen tiempos nominales importantes.

Ajustes del mdulo de prueba


En la configuracin del hardware, desactive la seal "Disparo" y active las
seales "Disparo L1", "Disparo L2" y "Disparo L3".
Figura 1-6:
Activacin de Disparo
L1, Disparo L2 y
Disparo L3 en la
configuracin del
hardware

En la ficha Secuencia fallida deseamos especificar 4 eventos por ciclo.


Para ello, seleccione el ciclo correspondiente haciendo clic en la columna
"Ciclo". Seleccione a continuacin "Aadir evento". Repita el proceso hasta
asignar 4 eventos al ciclo.
En cuanto al tiempo muerto, cambiamos el modo de evaluar a "Tiempo" y
especificamos los siguientes parmetros con arreglo a los tiempos nominales
del equipo en prueba:

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Tiempo muerto corto (monopolar): 1,20s

Tiempo muerto corto (tripolar): 0,40s

Tiempo muerto largo (monopolar): 0,80s

Tiempo muerto largo (tripolar): 0,80s

ARC

Dado que se emite una falta L1-E, el tiempo muerto del primer ciclo tiene que
ser 1,2s. El tiempo muerto del segundo ciclo ser 0,8s. Para las tolerancias de
tiempo seleccionamos el valor 100ms.
En el primer ciclo, un error monopolar dar lugar a un nico disparo monopolar.
Compruebe esto ajustando el modo de evaluar del Disparo L1 en "Esperado", y
del L2 y L3 en "No esperado".
En la figura 1-7 se muestra la ficha Secuencia fallida con la configuracin
completa.
Figura 1-7:
Ficha Secuencia
fallida con todos los
ajustes de la
configuracin

Los ajustes de la ficha Secuencia exitosa ya son correctos. Ahora ambas


pruebas estn activadas.
Empiece ambas pruebas haciendo clic en el icono de comenzar o
seleccionando la opcin de men P R U E B A | C O M E N Z A R / C O N T I N U A R .

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OMICRON Test Universe

1.3.4

Resultados de la prueba
Los resultados de la prueba se muestran en las tablas de las fichas Secuencia
fallida y Secuencia exitosa.

Figura 1-8:
Ejemplo del resultado
de una prueba en la
ficha Secuencia fallida

Figura 1-9:
Ejemplo del resultado
de una prueba en la
ficha Secuencia
exitosa

16

ARC

En la Oscilografa los dos cursores se ajustan de manera que se pueda leer la


duracin del comando IP activado.
Figura 1-10:
Resultado de la prueba
en la oscilografa

En caso de AR incorrecto, el comando de disparo interrumpe el comando IP


activado. La duracin mxima del comando IP activado slo se da en caso de
AR correcto. El valor medido 503,5ms cumple de forma muy exacta el
parmetro del equipo en prueba, fijado en 0,50s.

Informe
Junto con los ajustes bsicos, la vista Informe muestra los parmetros del
equipo en prueba, los valores de falta y las tablas correspondientes a la
secuencia fallida y exitosa.
Si se va a aadir la oscilografa al informe de la prueba, debe ajustarse el
formato "detallado" de informe con la opcin de men P A R M E T R O S |
INFORME.
La oscilografa se aade entonces al informe tal como est ajustada en la
pantalla en ese momento (incluido el factor de zoom y los ajustes de cursor).

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Asistencia

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