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se
describe un proceso para el crecimiento de una capa delgada de dixido de silicio sobre placas de
silicio que se usan en la fabricacin de semiconductores. En l aparecen datos relativos a las
mediciones del espesor, en angstroms (A), de la capa de xido para pruebas realizadas en 24
placas: se realizaron 9 mediciones en cada una de las 24 placas. Las placas se fabricaron en dos
series, 12 placas en cada serie. Estas placas eran de distintos tipos y se procesaron en distintas
posiciones en el horno, ya que, entre otros aspectos, el propsito de la recopilacin de los datos
era determinar si el espesor de la capa de xido estaba afectado por el tipo de placa y por la
posicin en el horno. Por el contrario, el experimento se dise de tal manera que no se esperaba
ninguna diferencia sistemtica entre las dos series. Los datos se muestran a continuacin.
a) Analice los datos comparando las medidas de tendencia central y de dispersin entre las
dos series y elabore una grfica que usted determine que describa mejor los resultados de
la medicin.
MEDIA
SERIE 2
MEDIANA
SERIE 1
MEDIA
SERIE 1 MEDIANA
SERIE 2
b) Analice los datos entre las mismas placas de distintas series y elabore una grfica que
usted determine describa mejor los resultados de la medicin.
S S S
S S S S
S 2 S 1 S 1 S
1 S S 1 2
1 S S P S S P 2 1
2 S S 2 S P S 1 S
P 2 S 1 5 1 P P P
1 2 P 2 P 1 2 8 P 1 2 P 2
1 P P 9 9
1 4 P P P P 8 1
2 P P 6 P 1 P 1 P
1 P 5 6 7 0
3 3 4 7 1 2 1
2 2
1
S
2
P
1
0
S S
S S S
S S S 1 S S
S S S 1 1 1 S
S 1 S S S S 2 P 2 1
1 2
1 S 2 2 P P S P 2
P P 2 1 P P S 1 2 1 S 1 P 9 P P
1 2
P P 6 1 P
1 1 P P 3 4 2 P P P 2 P 8
9 1
1 P
2 P 5 8 2 1
2 5 6 7 P 0 1
3 4 2
7 1
c) Determine si existen datos cuantitativos atpicos o fuera de rango mediante el mtodo de
los percentiles y elabore una grfica de caja para las dos series.
PLACA Serie 1
1 76.1 77.3 77.5 84.6 87.2 87.9 87.9 88 88.1
2 88.2 88.7 88.8 89.3 89.3 89.4 89.6 89.8 89.9
3 90 90.1 90.1 90.1 90.2 90.3 90.3 90.4 90.5
4 90.5 90.6 90.7 90.9 91.1 91.1 91.1 91.3 91.3
5 91.4 91.5 91.5 91.5 91.6 91.6 91.6 91.7 91.7
6 91.7 91.7 91.8 91.9 92 92 92 92 92.2
7 92.2 92.4 92.4 92.5 92.6 92.6 92.7 92.7 92.7
8 92.8 92.8 92.8 92.9 93.1 93.1 93.3 93.3 93.3
9 93.4 93.5 93.6 93.6 93.7 93.7 93.9 93.9 94
10 94.1 94.3 94.5 94.5 94.5 94.5 94.6 94.9 95.1
11 95.2 95.2 95.2 95.3 95.4 95.4 95.5 95.7 95.7
12 95.8 96 96.7 96.7 96.8 97.4 97.9 98.2 100.3
Serie 1
76 81 86 91 96 101 106
PLACA Serie 2
1 82.1 82.7 86.5 87.5 87.6 87.9 88 88.3 88.3
2 88.5 88.9 88.9 89 89 89.4 89.6 89.6 89.8
3 89.9 90 90 90.2 90.3 90.4 90.5 90.6 90.6
4 90.7 90.8 90.8 90.8 90.9 90.9 90.9 91 91
5 91 91.1 91.2 91.3 91.3 91.4 91.4 91.4 91.5
6 91.5 91.5 91.5 91.6 91.7 91.8 91.8 91.8 91.8
7 91.9 92.1 92.1 92.1 92.2 92.2 92.2 92.3 92.4
8 92.4 92.5 92.8 92.8 92.8 92.8 92.8 92.8 93
9 93 93 93.1 93.2 93.4 93.6 93.6 93.6 93.6
10 93.7 93.8 93.8 93.9 94 94 94 94.2 94.6
11 94.7 94.9 95.3 95.8 96 96.1 96.4 97.9 98.4
12 99.9 101.5 102 102.5 103.1 103.2 103.5 105.4 106.7
Serie 2
Los datos obtenidos en cada una de las series, son muy parecidos entre s.
No existe una variacin importante entre las placas de una serie y otra.
2.- Un lote de 50 arandelas contiene 30 arandelas cuyo grosor excede las especificaciones de
diseo. Se seleccionan 3 arandelas al azar y sin reemplazo del lote.
a) Cul es la probabilidad de que las 3 arandelas sean ms gruesas que las especificaciones?
(30/50) = 0.6
(29/49) = 0.5918
(28/48) = 0.583
b) Cul es la probabilidad de que la 3era arandela seleccionada sea ms gruesa que las
especificaciones de diseo si las dos primeras fueron ms delgadas que la especificacin?
(20/50) = 0.4
(19/49) = 0.3877
(30/48) = 0.625
Este encargado, consciente de que la mquina puede dar por buenas piezas que son defectuosas,
decide actuar de la siguiente forma: una pieza que sea detectada como no defectuosa pasar otras
dos veces por la misma mquina detectora y slo ser declarada no defectuosa cuando en ninguna
de esas tres pruebas d defectuosa.
a) Cul es la probabilidad de que una pieza detectada como no defectuosa por la mquina,
sea realmente defectuosa?
(0.0857375/0.0861875) = 0.9948
c) El mtodo ideado por el responsable de calidad es consistente?