UNIVERSIDAD DE SONORA

Departamento de Ingeniería Química y Metalurgia

Caracterización de los Materiales.

Microscopía electrónica por transmisión de alta resolución.

Elaborado por Geraldynee Castro López.

Hermosillo, Sonora a 17 de septiembre del 2017

Microscopio de Transmisión de Alta Resolución (HRTEM)

Se trata de una técnica empleada en el microscopio electrónico de transmisión (TEM) en la
cual se utiliza un cañón de electrones para poder obtener una imagen de las características,
a escala atómica, de algún material. Ya que es muy alta la resolución tiene un uso práctico
en investigaciones de ingeniería, ciencias de los materiales y caracterización geológica.
¿Cómo funciona?
El HRTEM aprovecha la interferencia formada en el plano de la imagen de las ondas de
electrones con si mismas. La formación del contraste en alta resolución utiliza una onda de
electrones casi plana que atraviesa una rebanada de la muestra (< 20 nm). Al mismo tiempo
que se trasmite la onda de electrones, se dispersa o difracta en los potenciales de los átomos,
lo que provoca que la fase de la onda se cambie. Al momento de salir del objeto, se forma la
onda objeto, la cual se magnifica en el microscopio electrónico y finalmente se graba sobre
placas de película o algún tipo de equipo fotográfico un patrón de interferencia de la onda
imagen. Para poder interpretar el patrón de interferencia, se realiza un proceso de varias
repeticiones en el cual se comparan imágenes simuladas con un computador de lo que se
espera encontrar con las imágenes adquiridas en el microscopio electrónico. Las imágenes
simuladas por el computador se basan en las estructuras que deberían ser, es decir, modelos
ideales del arreglo atómico. La resolución de la estructura depende de la resolución óptica
de la lente objetivo. Es importante mencionar que en el proceso se adquieren aberraciones
ópticas que se consideran en la reconstrucción de la imagen.
Las imágenes producidas por el TEM de alta resolución son especiales por la apreciación de
los detalles a nivel atómico, y nos ayudan a entender el ordenamiento de los átomos en zonas
de la muestra. En materiales con estructura cristalina, podemos obtener la imagen debido al
contraste por fase, que se origina por las interferencias constructivas y destructivas que se
presentan por los electrones que se dispersan entre los planos cristalinos y los no
dispersados.
Debido a que la técnica HRTEM es muy sensible a la variabilidad del foco y las aberraciones
ópticas, como anteriormente se dijo, se sugiere utilizar algún software de simulación para
lograr una correcta interpretación de lo visto a través del microscopio.

En el ejemplo puede observarse

una dislocación de la estructura
cristalina.

Artículo de Investigación
Microscopia electrónica de transmisión de alta resolución en investigación del
sobrecalentamiento in-situ de nanoparticulas de Cu.
El punto de la investigación consiste en encontrar un patrón de comportamiento en las
partículas del Cobre cuando se encuentran en un
medio de sustrato de grafito a altas temperaturas,
esto con el fin de analizar la estabilidad térmica y
la fusión de las partículas metálicas.
Gracias a la microscopia electrónica por
transmisión de alta resolución y un adecuado
software que simula el movimiento molecular se
pudo visualizar e interpretar el efecto del sustrato
en la fusión y cualidades térmicas del Cu en grafito
y Cu2S.
La siguiente figura muestra imágenes obtenidas
del HRTEM del recocido de Cu en sustrato de
grafito a 1073 K.
En conclusión al artículo y basándose en las imágenes obtenidas en el equipo de alta
resolución, podemos observar que la partícula se va haciendo más pequeña pero sigue
conservándose con una estructura cristalina (Fig. 1b y 1c), ya en el último recuadro (1.d)
desaparece completamente la partícula, por lo que podemos deducir que no se lleva a
cabo un proceso de fusión y que dicha estabilidad se le atribuye a la adsorción de una
capa de carbono en el cobre.

Chan, C. et al. Microscopía Electrónica de Transmisión In Situ de Alta Resolución Investigación del
Sobrecalentamiento de las Nanopartículas de Cu

Bibliografía

Chan, C. et al. Microscopía Electrónica de Transmisión In Situ de Alta Resolución Investigación del
Sobrecalentamiento de las Nanopartículas de Cu. Sci. Rep. 6 , 19545; doi: 10.1038 / srep19545
(2016).

Thust A, Coene WMJ, Op De Beeck M, Van Dyck D. Focal-series reconstruction in HRTEM: Simulation
studies on non-periodic objects. Ultramicroscopy. 1996;64:211–230

M. Op de Beeck, D. Van Dyck, W.M.J. Coene: Wave function reconstruction in HRTEM: the parabola
method, Ultramicroscopy 64 (1996) 167

https://www.nature.com/articles/srep19545

https://www.researchgate.net/post/What_is_the_difference_between_TEM_and_HRTEM

https://www.its.caltech.edu/~matsci/btf/TEM_Book/chapter10.pdf

http://www.dstuns.iitm.ac.in/microscopy-instruments.php

http://www.elmi.uni-bonn.de/en/sub/forschung/hrtem_e.html