Ms. Ing. Csar Moreno Rojo CIP 100352 cemoro67@yahoo.

es

NIVEL DE INSPECCIN
Especificar el nivel de inspeccin requerido en una aplicacin particular.
Criterio selectivo ms amplio para propsitos y ms riguroso para otros. algunos

Nivel de Inspeccin General

Nivel de Inspeccin Especial

El contenido de la norma es el siguiente: Los planes de muestreo de MIL-STD-105E se basan en el NCA, que deber fijarse entre cliente y proveedor. En principio estos planes estn pensados para inspeccin lote a lote aunque tambin se puede utilizar para el caso de lotes aislados; en este caso es necesario especificar cul es la CL mxima que se admite. Existen tres niveles ordinarios de inspeccin, niveles I, II, y III, y otros cuatro especiales, niveles S-1, S-2, S-3 y S-4, que se utilizan en caso de ensayos destructivos o de inspecciones muy costosas. Estos niveles van en funcin de la complejidad y la responsabilidad del producto. Cuanto ms alto es el nivel, mayor es el tamao de la muestra y aumenta la discriminacin del plan de muestreo. Si no se indica otra cosa se toma el nivel II. Existen tres tipos de planes: simples, dobles y mltiples, cuya eleccin queda a cargo del inspector que aplica la norma. Como se ha dicho anteriormente, esta norma est diseada para series de lotes. Existen por tanto tres niveles de muestreo distintos segn haya sido la historia de los lotes anteriores: Inspeccin Rigurosa. Inspeccin Normal. Inspeccin Reducida.

LETRA CLAVE PARA EL TAMAO DE MUESTRA

Los tamaos de la muestra, se designan mediante letras clave, Tabla 1 ISO- 2859-1, teniendo en cuenta el tamao determinado del lote y un nivel de inspeccin previamente especificado.

Existen tres niveles ordinarios de inspeccin, niveles I, II, y III, y otros cuatro especiales, niveles S-1, S-2, S-3 y S-4, que se utilizan en caso de ensayos destructivos o de inspecciones muy costosas. Estos niveles van en funcin de la complejidad y la responsabilidad del producto. Cuanto ms alto es el nivel, mayor es el tamao de la muestra y aumenta la discriminacin del plan de muestreo. Si no se indica otra cosa se toma el nivel II.

OBTENCIN DE UN PLAN DE MUESTREO

Tanto el valor del NAC como la letra clave del tamao de la muestra, se deben emplear para obtener el plan de muestreo a partir de las tablas II, III, o IV (NTC 2859-1).

TAMAO DE LA MUESTRA

Est dado por la letra clave

DIFERENTES TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

El nmero de unidades de la muestra inspeccionada ser igual al tamao de la muestra dado por el plan de muestreo

El nmero de unidades de la muestra inspeccionada ser igual al tamao de la muestra dado por el plan de muestreo. No. Unidades disconformes < Ac aceptado No. Unidades disconformes > Re , rechazado No. Unidades disconformes entre Ac y Re , se inspecciona una segunda muestra indicada por el plan.

CUANDO ALTERNAR ENTRE LOS MUESTREOS NORMAL, SEVERO Y REDUCIDO

La mecnica para la utilizacin de la norma ISO 2859-1 es la siguiente:

Fijacin del NCA y nivel de inspeccin (por ejemplo NCA=0.65 Nivel II). Dato: tamao del lote (por ejemplo 300). Bsqueda de la letra-cdigo en la Tabla I. En este caso resulta ser la H. A continuacin, si se desea un plan simple se ir a las Tablas II, doble a las Tablas III y si mltiple a las Tablas IV. En el ejemplo busquemos el plan correspondiente a simple en inspeccin normal: Tabla II-A: El tamao de la muestra es 50 pero se observa que la casilla correspondiente al nmero de aceptacin est ocupada por una flecha que nos lleva hasta el plan: muestra=80, Ac=1 y Re=2 . Si se tratara de un lote aislado sera necesario comprobar que la CL es aceptable. Ello se puede comprobar en este caso utilizando la Tabla X-J, en la que se lee CL=5%

Esquema de muestreo: N=1,000, n=75 y C=0. Este esquema se describe as: de un lote de 1000 piezas tmense aleatoriamente 75 piezas. Si en las 75 piezas hay 0 piezas defectuosas, se acepta el lote. Si hay 1 o ms defectuosas, el lote se rechaza.

Protecciones

NCA. Nivel de calidad aceptable, esto es, el mximo nmero de piezas defectuosas que permite considerar al lote todava aceptable. En adelante, tambin se utilizar la notacin p1.
LTPD Por ciento defectuoso tolerable, indica el mximo porcentaje de piezas defectuosas que el cliente est an dispuesto an a tolerar con una probabilidad de de aceptacin muy baja. En adelante, tambin se utilizar la notacin p2.

Riesgos
. Riesgo del producto, tambin llamado error tipo I, es la probabilidad de rechazar un producto de buena calidad, en la que puede incurrir el productor, al juzgar al lote como de mala calidad. En otras palabras, es la probabilidad de rechazar un lote con un porcentaje de artculos defectuosos p menor, o igual al NCA estipulado en el contrato. . Riesgo del consumidor, el error tipo II, es la probabilidad de aceptar un producto de mala calidad al juzgarlo como de buena calidad. En otras palabras, es la probabilidad de aceptar un lote con un porcentaje de artculos defectuosos mayores o iguales al PDTL estipulado por el cliente.

Muestreo Simple.

En el caso del muestreo simple se toma del lote una muestra (n) y de esta depender la decisin de aceptar o rechazar el lote, dependiendo de el nmero de objetos mximo a tolerar (c). A la probabilidad de aceptar un lote se le denomina Probabilidad de Aceptacin (Pa) y todo va a depender de la calidad del lote o fraccin defectuosa (p). La notacin es: N: tamao del lote n: tamao de muestra c: nmero de aceptacin d : fraccin de defectuosas

Ejemplo Supngase que se desea disear un esquema de muestreo con cero tolerancia de semilla contaminada (Anthoxanthum odoratum) en pasto Rye grass (C=0) para inspeccionar lotes con un Nivel de Calidad Aceptable (NCA= p1) igual a 0.01 (1%) convenido con el exportador y un Por Ciento Defectuoso Tolerable (LTPD= p2) de tamao 0.04 (4%), convenido por SENASICA. El exportador desea que se le acepten sus lotes con una probabilidad alta, esto es del 95% ((1-)%=(1-0.05)%) y SENASICA desea rechazar lotes el 90% (1-) de las veces cuando le llegan lotes contaminados hasta con un 4% (p2). La Figura 5.2 muestra la curva de operacin asociada a estas caractersticas.

Ejemplo 1: Plan de muestreo n=10 y c=2. Se deben analizar 10 unidades de muestra y si en 3 o ms veces malos, el lote se rechaza, o dicho de otra manera, se analizan 10 muestras y hasta con 2 resultados malos el lote es aceptado. Ejemplo 2: Plan de muestreo n=10, c=2 y m=10 Plan de muestreo para analizar coliformes en un animal. Se deben analizar 10 unidades y si en 3 o ms muestras el recuento de coliformes es superior a 10 unidades formadoras de colonia (para coliformes) se tiene que rechazar.

Ejemplo 3: Plan de muestreo n=10 y c=0: aplicado a salmonella. Se deben analizar 10 unidades de muestra y en ninguna puede haber presencia de salmonella.

Ejemplo:

n=5, M=5x10, m=50 y c=2; Se debe analizar 5 unidades de muestra del lote permitiendo que las muestras den un recuento, de por ejemplo coliformes entre 50 y 500 unidades formadoras de colonia en 2 muestras. Pero si una sola muestra da valores superiores a 500 se rechaza el lote.

Esquema de muestreo: N=1,000, n=75 y C=0.

Este esquema se describe as: de un lote de 1000 piezas tmense aleatoriamente 75 piezas. Si en las 75 piezas hay 0 piezas defectuosas, se acepta el lote. Si hay 1 o ms defectuosas, el lote se rechaza.