Microscopio de

Fuerza Atmica
En 1985 Gerd Binnig y Christoph Gerber se tomaron
una licencia del laboratorio de IBM en Zurich,
despus del entusiasmo por la creacin del
microscopio de efecto tnel( scanning tunneling
microscope STM).
Ya en California, trabajaron con cientficos de la
Stanford Univercity y de IBM en un microscopio que
se llamara microscopio de fuerzas atmicas,
pensado por Binning.
En febrero de 1986, Binnig, Quate y Gerber
introducen el primer prototipo del AFM, seis meses
antes que Binnig y Heinrich Rohrer recibieran el
premio Nobel por el STM
Historia
Instrumento mecano-ptico capaz de detectar
fuerzas del orden de los nanonewton.
Al analizar una muestra, es capaz de registrar
continuamente la altura sobre la superficie de
una sonda o punta cristalina de forma
piramidal.
La sonda va acoplada a un listn microscpico,
muy sensible al efecto de las fuerzas, de slo
unos 200 m de longitud.
Principio
La fuerza atmica se puede detectar cuando la
punta est muy prxima a la superficie de la
muestra. Es posible entonces registrar la
pequea flexin del listn mediante un haz
laser reflejado en su parte posterior. Un
sistema auxiliar piezoelctrico desplaza la
muestra tridimensionalmente, mientras que la
punta recorre ordenadamente la superficie.
Todos los movimientos son controlados por
una computadora.
Funcionamiento


{ {
Algunas imgenes
obtenidas con el
Microscopio de Fuerza
Atmica son las
siguientes: a) cabello, b)
bacilo "anclado" sobre una
base de vidrio, c) plano de
clivaje de la mica. Note
las diferentes escalas y
que en (c) se resuelven
detalles bastante menores
de 1 nm.

Mediante el uso de un
actualizado microscopio de
fuerza atmica los cientficos
han tomado las primeras
imgenes tomo por tomo,
incluyendo imgenes de los
enlaces qumicos entre los
tomos, donde se muestra
claramente cmo ha cambiado la
estructura de una molcula
durante una reaccin qumica.
Hasta ahora, los cientficos slo
han sido capaces de deducir este
tipo de informacin a partir del
anlisis espectroscpico.

MODO DE CONTACTO : Este modo de
barrido requiere retroalimentacin, de
manera que la repulsin entre el listn y la
muestra permanece constante. De la
intensidad de la retro-alimentacin se mide
la altura. Este es el modo ms comn de
barrido.


MODO DE ALTURA CONSTANTE : En
este modo de barrido la altura del cantilever
se mantiene constante durante el barrido. Se
mide la flexin del listn. Al no haber
retroalimentacin, es posible barrer a alta
velocidad.

Diferentes formas o modos
de funcionamiento
MODO SIN CONTACTO : Este modo de barrido
requiere retroalimentacin, y la atraccin entre la
muestra y el listn (que vibra cerca del punto de
resonancia) permanece constante. De la intensidad
de la retro-alimentacin se mide la altura. La
resolucin es un poco menor debido a la distancia
entre el listn y la muestra.


MODO DINAMICO : Este modo provee
retroalimentacin, en tanto que la repulsin entre
la muestra y el cantilever (que vibra cerca del
punto de resonancia) permanece constante. De la
intensidad de la retroalimentacin se mide la
altura. Dado que hay poco "rozamiento" de la
superficie, este modo es ideal para muestras que se
mueven con facilidad.
http://www.galileog.com/ciencia/fisica/microsc
opio/microscopio_fuerzas.htm
http://www.bioblogia.com/2013/05/visualizan-
por-primera-vez-una-molecula-antes-y-
despues-de-una-reaccion-
quimica/#.Uwq9vGJ5OE5
http://www.fisica.uh.cu/bibvirtual/vida%20y%2
0tierra/microscopiofuerza%20atomica/
http://www.uco.es/~iq2sagrl/TranspTema9.pdf
http://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_de_f
uerza_at%C3%B3mica

bibliografia