CAPACIDAD

DE PROCESOS

1
INTRODUCCION

LA CAPACIDAD DE PROCESOS TIENE QUE

VER CON:
Cuantificar la variacin de un
proceso.
x

Analizar esta variacin en

relacin con las
especificaciones del producto

LIE

LSE

Reducir en gran medida esta

variacin. Es decir que el
proceso tenga la mayor
uniformidad.

LIE

LSE

ESPECIFICACION
La especificacin es la voz del cliente
La especificacin es el valor de un tem de control que se
debe cumplir.
De ah que interesa saber que tan capaz es el proceso de
cumplir con esas especificaciones.
Por lo tanto todo valor puede ser clasificado como bueno
(si cumple con la especificacin) o como defectuoso (si no
cumple con la especificacin).
La diferencia entre las especificaciones (LSE - LIE) dan
la tolerancia.

OBJETIVOS DEL ESTUDIO DE LA CAPACIDAD

DE PROCESOS
Determinar si nuestros procesos son capaces de
elaborar productos con la calidad que requiere el
mercado.
Predecir el grado de cumplimiento del proceso a las
especificaciones.
Seleccionar o modificar un proceso.
Elegir entre diferentes proveedores.
A establecer un perodo entre toma de observaciones en
un muestreo.
Reducir la variacin de un proceso.

2
DEFINICION

CAPACIDAD DE PROCESO
Es el potencial del proceso para cumplir con las
especificaciones.
La Capacidad de Proceso se puede representar como:
Capacidad de Proceso =

Voz del Cliente

Voz del Proceso

VOC
VOP

Donde LA VOZ DEL PROCESO es la variacin del

proceso, generada slo por las causas comunes.
Condicin ineludible: Que el proceso est bajo Control
Estadstico. Es decir, presencia slo de variaciones
comunes.

3
MEDIDAS DE LA
CAPACIDAD DE PROCESO

CAPACIDAD DE PROCESO (CPRO)

Mide la variacin natural del proceso, generado slo por
las variaciones comunes (Proceso bajo control
estadstico)
CPRO = 6 * ^
(x)
Donde:
^
(x)

=
desviacin
terica de la
poblacin

El clculo de ^
(x) depende del grfico de control de
variables que se est utilizando para verificar el estado
de control.

 Cuando se est utilizando el grfico de control x - R

R
^
(x) =
d2

= rango promedio de las

muestras

Cuando se est utilizando el grfico de control x - s

s
^
(x) = c
4

d2 y c4

= desviacin promedio de las

muestras

=
factores estadsticos que
dependen del tamao de la muestra

 Factores estadsticos c4 y d2
Tamao de
muestra

c4

d2

0.7979

Tamao de
muestra

c4

d2

1.128

19

0.9862

3.689

0.8862

1.693

20

0.9869

3.735

0.9213

2.059

21

0.9760

3.778

0.9400

2.326

22

0.9882

3.819

0.9515

2.534

23

0.9887

3.858

0.9594

2.704

24

0.9892

3.895

0.9650

2.847

25

0.9896

3.931

0.9693

2.970

30

0.9915

4.086

10

0.9727

3.078

35

0.9927

4.213

11

0.9754

3.173

40

0.9936

4.322

12

0.9776

3.258

45

0.9943

4.415

13

0.9794

3.336

50

0.9949

4.498

14

0.9810

3.407

60

0.9957

4.639

15

0.9823

3.472

70

0.9963

4.755

16

0.9835

3.532

80

0.9968

4.854

17

0.9845

3.588

90

0.9972

4.939

18

0.9854

3.640

100

0.9975

5.015

INDICE DE CAPACIDAD POTENCIAL DEL

PROCESO (Cp).
Mide qu tan potencialmente capaz es el proceso para
cumplir las especificaciones.
Mide cuantas veces cabra la variacin natural del
proceso (6) dentro de la amplitud permitida por las
especificaciones (LSE - LIE).
La extensin real del proceso (6) debe ser menor
para decir que el proceso es potencialmente capaz.
LSE - LIE
Cp =
6*^
(x)

Cp > 1 Proceso potencialmente

capaz

Valor ms grande del Cp, ES MEJOR.

 Ejemplo 1:
Se tienen la siguiente informacin de un proceso:
Especificaciones: LSE = 11.0, LIE = 10.50
Datos del Proceso:
= 0.0868
x = 10.85
Cp =

11.0 10.50
6(0.0868)

= 0.96

La variacin permitida es menor que la del proceso

Notese que el valor de x no interviene en el clculo

 Cp para procesos centrados

Se dice que un proceso es centrado cuando la media del
proceso es igual al centro de especificacin:

LSE + LIE
=
2

A
LIE

LSE

3
x

6 > LSE - LIE

Cp < 1

B
LIE

LSE

3
x

6 = LSE - LIE
Cp = 1

LIE

LSE

3
x

6 < LSE - LIE

Cp > 1

 Cp para procesos descentrados

Digamos que los mismos procesos (A, B y C) se descentran:
A
LIE

LSE

3
x

6 > LSE - LIE

Cp < 1

B
LIE

LSE

3
x

6 = LSE - LIE
Cp = 1

El valor del Cp para los procesos A y B son exactamente

iguales, estn centrados o no.

LIE

LSE

A pesar que todo est fuera

de especificacin, el valor de
Cp sigue siendo mayor a 1.
Igual que cuando estaba
centrado.

6 < LSE - LIE

Cp > 1
En conclusin: un valor grande de Cp (Cp mucho mayor a 1)
no garantiza que todos los valores caigan dentro de las
especificaciones.
Porque el Cp no indica si la extensin real (6) coincide con
las especificaciones, slo compara sus tamaos.

INDICE DE CAPACIDAD DEL PROCESO (Cpk).

Mide qu tanto el proceso cumple las especificaciones.
Considera la posicin del proceso con respecto a las
especificaciones.
Calcula cuantas veces cabe realmente el proceso
dentro de las especificaciones (LSE - LIE)
LSE - x , x - LIE
Cpk = min
3 *^
(x) 3 * ^
(x)
Cpk > 1 Proceso capaz
Valor ms grande del Cpk, ES MEJOR.

Interpretacin Grfica del Cpk

LIE

x - LIE

LSE - x

LSE

3
x

El ndice Cpk pueden interpretarse como la capacidad del proceso

hasta el lmite de especificacin ms prximo a la media.

 Cpk para procesos centrados

Consideremos los mismos procesos A, B y C.
A
LIE

LSE

B
LIE

LSE

C
LIE

LSE

6 > LSE - LIE

Cp < 1

6 = LSE - LIE
Cp = 1

6 < LSE - LIE

Cp > 1

LSE - x
x - LIE
= 3*(x)
3*(x)

En procesos centrados
Cp = Cpk

 Cpk para procesos descentrados

Los mismos procesos (A, B y C) descentrados:
A
LIE

LSE

3
x

6 > LSE - LIE

Cp < 1
LSE - x
3*(x)

<

x - LIE
3*(x)

B
LIE

LSE

3
x

6 = LSE - LIE
Cp = 1
LSE - x
3*(x)

>

x - LIE
3*(x)

Cpk < 1

Cpk < 1

Cpk < Cp

Cpk < Cp

LIE

LSE

LSE - x
3*(x)

<

x - LIE
3*(x)

Cpk < 0
3

6 < LSE - LIE

Cpk < Cp

Cp > 1
En conclusin: un valor grande de Cp (Cp mucho mayor a 1)
puede tener Cpk negativo.
Para cualquier proceso, el mximo valor que pude tener el
Cpk es el valor del Cp.
SIEMPRE:

Cpk <= Cp

 Ejemplo 2:
Las Especificaciones del Consumidor son 3.20 pulgadas 0.10
LIE = 3.10 pulg., LSE = 3.30 pulg.
El Proceso opera sobre una media de 3.15 pulg. y una
desviacin estndar de 0.05 pulg.
3.30 - 3.10
Cp =
= 0.666
6 * 0.05
3.30 - 3.15 , 3.15 - 3.10
Cpk = min
3 * 0.05
3 * 0.05

= min 1.00 , 0.33

Cpk = 0.33
Cp < 1: la variacin del proceso es muy amplia
Cpk < 1: se producen actualmente muchos defectos
Cpk < Cp:, el proceso est descentrado y muy cercano al LIE.
Pueden producirse defectos excesivos (por debajo del LIE).

INTERPRETACIONES DE Cp Y Cpk
Cp
Cp
Cp
Cpk
Cpk
Cpk
Cpk
Cpk
Cpk
Cpk

<1
Proceso incapaz
=1
La amplitud del proceso es igual a la
tolerancia (LSE - LIE)
>1
Proceso potencialmente capaz (mnimo
1.33)
<0
La media del proceso est fuera de los
lmites de especificacin.
=0
La media est sobre uno de los lmites
de especificacin.
>0
La media est entre los lmites de
especificacin.
<1
Proceso incapaz
=1
Proceso centrado y la amplitud del
proceso es igual a la tolerancia (LSE - LIE)
>1
Proceso capaz (mnimo 1.33)
= Cp
Proceso centrado con respecto a los

OTRAS MEDIDAS DE CAPACIDAD

Indice de descentramiento (k)
Donde:

|CE - x| * 2
k=
LSE - LIE
Entonces

LSE + LIE
CE =
2

Cpk = Cp(1 - k)

Estabilidad ()
St
=
(x)
^

Donde:
St = desviacin estndar de
toda la muestra
St =

(xi - x)2
n-1

 Ejemplo 3:
Se desea conocer la Capacidad de un proceso, para producir
piezas, donde el espesor de la misma es la caracterstica
crtica.
Se cuenta con las siguientes especificaciones:
espesor
LSE
LIE

= 0.300 pulg.
= 0.300 + 0.015 = 0.315 pulg.
= 0.300 - 0.005 = 0.295 pulg.

Se tomaron 20 muestras y los datos se muestran en la

siguiente lmina.

Espesor (pulg)
1

0.301

0.304

0.306

0.304

0.304

0.005

0.303

0.307

0.305

0.305

0.305

0.004

0.304

0.305

0.305

0.307

0.305

0.003

0.306

0.302

0.304

0.305

0.304

0.004

0.301

0.306

0.307

0.303

0.304

0.006

0.308

0.303

0.306

0.304

0.305

0.005

0.307

0.305

0.306

0.306

0.306

0.002

0.305

0.303

0.304

0.306

0.305

0.003

0.304

0.305

0.309

0.302

0.305

0.007

10

0.307

0.305

0.306

0.305

0.306

0.002

11

0.304

0.305

0.306

0.305

0.305

0.002

12

0.306

0.307

0.308

0.305

0.307

0.003

13

0.303

0.303

0.307

0.303

0.304

0.004

14

0.306

0.303

0.302

0.309

0.305

0.007

15

0.307

0.303

0.304

0.303

0.304

0.004

16

0.306

0.304

0.306

0.305

0.305

0.002

17

0.305

0.305

0.300

0.305

0.304

0.005

18

0.306

0.304

0.306

0.303

0.305

0.003

19

0.306

0.304

0.304

0.300

0.304

0.006

20

0.306

0.302

0.305

0.304

0.304

0.004

Total

6.095

0.081

Primero debemos conocer si el proceso est o no bajo

control. Elaboramos entonces el grfico x-R
Grfico R

R=

0.081
20

= 0.0041

LSC = D4 * R = 2.2820 * 0.0041

LSC = 0.0091
LIC = D3 * R = 0 * 0.0041
LIC = 0

Grfico x

x=

6.095
20

= 0.3048

LSC = x + A2*R = 0.3048 + 0.729 * 0.0041

LSC = 0.3077
LIC = x - A2*R = 0.3048 - 0.729 * 0.0041
LIC = 0.3018

Grfico x
0.310

LSC

0.308

pulg

0.306

LC

0.304

LIC

0.302
0.300
0.298
1

9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Como se puede
apreciar, de los
grficos, el
proceso est en
control
estadstico.

muestras

Grfico R
0.010

LSC

pulg

0.008
0.006
0.004

LC

0.002

LIC

0.000
1

9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

muestras

Ahora s se
puede analizar la
capacidad del
proceso.

Clculo de la Capacidad del Proceso (CPRO)

CPRO = 6 * ^
(x)
R
^
(x) =
d2

0.0041
2.059

= 0.0020

CPRO = 6 * 0.0020 = 0.012

Clculo de Cp
LSE - LIE
Cp =
6*^
(x)

0.315 - 0.295
Cp =
0.012
Cp = 1.67
Proceso potencialmente capaz

Clculo de Cpk
LSE - x , x - LIE
Cpk = min
3 *^
(x) 3 * ^
(x)
0.315 - 0.3048 , 0.3048 - 0.295
Cpk = min
3 * 0.0020
3 * 0.0020
Cpk = min 1.70 , 1.63

Cpk = 1.63
Proceso capaz

Cp, Cpk y k CUANDO SOLO HAY UNA

ESPECIFICACION
En muchas ocaciones se cuenta con una sola
especificacin, ya sea sta un valor mximo o un valor
mnimo.
Slo Limite Superior de Especificacin (LSE)
LSE - T
Cp =
3 *^
(x)

|T - x|
k=
LSE - T

Donde:
T

= valor meta
(target)

 Interesa que todos los valores

sean menores a la especificacin.

LSE - x
Cpk =
3*^
(x)

Cuando x < LSE

LSE

Cuando x > LSE

LSE

Cpk > 0

Cpk < 0

 Slo Limite Inferior de Especificacin (LIE)

T - LIE
Cp =
3 *^
(x)

|T - x|
k=
T - LIE

Donde:
T

x - LIE
Cpk =
3*^
(x)

= valor meta
(target)
Interesa que todos los valores
sean mayores a la especificacin.

Cuando x > LIE

Cuando x < LIE

LIE

LIE

Cpk > 0

Cpk < 0

Cpk >= 1.25

Valor mnimo, en procesos con una
sla especificacin, para que sea
considerado capaz

4
ESTIMACION DEL
PORCENTAJE DE DEFECTOS

ESTIMACION
Se basa en la teora de la Distribucin Normal y en la
aplicacin del estadstico z.
El estadstico z, permite ajustar cualquier proceso que
sigue una distribucin normal a la curva estndar: N(0,1).
El valor de z se define como:
z = x-x

Donde:
x = valor de la caracterstica
x = media de la caracterstica
S = desviacin estndar de la caracterstica

A partir del valor de z y el uso de tablas estadsticas se

calcula el porcentaje debajo de la curva normal.

 Ejemplo 4:
Tomamos los datos del Ejemplo 2:
LSE = 3.10
LIE = 3.30
x = 3.15
S = 0.05
Cp = 0.666
Cpk = 0.33
z del LIE:
z=

3.10

3.30

3.10 - 3.15
0.05

z=

z = -1

15.865% de
defectuosos

z del LSE:
3.30 - 3.15
0.05

z=3

3.15

0.135% de
defectuosos

 Qu sucede s pudiramos correr la media a 3.20?

z del LIE:
z=

3.10

3.30

3.10 - 3.20
0.05

z=

z = -2

3.30 - 3.20
0.05

z=2
3.20

2.276% de
defectuosos

z del LSE:

2.276% de
defectuosos

Slo centrando el proceso, sin reducir la dispersin, se

reduce los productos defectuosos de 16.0% a 4.552%

 Qu sucede s pudiramos reducir la desviacin estndar

a 0.03?
z del LIE:
z=

3.10

3.30

3.10 - 3.20
0.03

z=

z = -3.33

3.30 - 3.20
0.03

z = 3.33
3.20

0.044% de
defectuosos

z del LSE:

0.044% de
defectuosos

Con el proceso centrado y menor dispersin, se reduce

los productos defectuosos de 4.552% a 0.088%

5
ESTUDIO DE
CAPACIDAD DE PROCESO

ESTUDIO DE CAPACIDAD
Estudio para estimar la aptitud del proceso.
Puede ser descriptivo (distribucin de probabilidad,
media, desviacin estndar), sin tomar en cuenta la
especificacin.
Puede expresarse como un porcentaje fuera de la
especificacin.
En la industria a veces se habla de dos tipos de
capacidad
Capacidad de las mquinas (u operarios) o
capacidad a corto plazo.
Capacidad del proceso o capacidad a largo plazo.

ETAPAS DEL ESTUDIO

Etapa 1: Definicin del Proceso a estudiar
Insumos (INPUT).
Productos (OUTPUT).
Lmites fsicos en el que se desarrolla.
Responsable del proceso.
Diagramas: DOP, DAP, Diagrama de Recorrido
Recursos: Operadores, mquinas, instrumentos de
medicin, etc..
Etapa 2: Definicin del tem de control a estudiar

 Etapa 3: Levantamiento de informacin

Definir mtodo de muestreo y tamao de la muestra.
Definir el tiempo y espacio en que se debe tomar la
informacin.
Elaborar hoja de verificacin.
Registrar la data Insumos (INPUT).
Etapa 4: Anlisis de la data
Los datos se muestran a travs de:
Grficos de Control
Histogramas

EJEMPLO 5

Se tiene el siguiente mecanismo de eslabones que consta

de cuatro componentes (x1, x2, x3 y x4) :
x1

x2

x3

x4

La especificacin establece que la longitud del mecanismo

ensamblado es 12.00 + 0.10, Qu proporcin de los
mecanismos ensamblados cumplir la especificacin?
Las longitudes de los componentes son independientes
(producidos por mquinas distintas). Las longitudes se
expresan en pulgadas.
x1 ~ N(2.0, 0.02)
x3 ~ N(3.0, 0.02)

x2 ~ N(4.5, 0.03)
x4 ~ N(2.5, 0.01)

 Desarrollo:
La longitud del mecanismo es una combinacin lineal de
las longitudes de los componentes:
y = a1x1 + a2x2 + ... + anxn
Como xi ~ N(i,i), entonces y ~ N(y,y)
Entonces, y = 2.0 + 4.5 + 3.0 + 2.5 = 12.0
Y,

0.022 + 0.032 + 0.022 + 0.012 = 0.0424

z del LIE:
z=

11.90

12.10

11.9 - 12.0
0.0424

z del LSE:
z=

z = -2.36

12.1 - 12.0
0.0424

z = 2.36
12.0

0.914% de
defectuosos

0.914% de
defectuosos

La proporcin que cumple la especificacin es:

100% - (0.914% + 0.914%) = 98.17%

EJEMPLO 6
Se tiene el siguiente esquema de montar un eje en un
cojinete:
Eje

x2

x1

Cojinete

x1 ~ N(1.500 plg, 0.002 plg)

x2 ~ N(1.480 plg, 0.004 plg)
Qu porcentajes de montajes no podrn realizarse,
sabiendo que las longitudes son independientes?
Desarrollo:
No se podr realizar el montaje si y = x1 - x2 < 0

 Como xi ~ N(i,i), entonces y ~ N(y,y)

Entonces, y = 1.500 - 1.480 = 0.020
Y,

0.0022 + 0.0042 = 0.0045

z del LIE:

z=

0.0

0.0 - 0.020
0.0045

z = -4.44
0.020

0.0% de montajes
no realizados