PLAN DE MUESTREO

DE VARIABLES
Supongamos que n es el nmero de elementos de una muestra y xi, i = 1,
2, ...,, los valores obtenidos para la caracterstica variable. Supongamos
que la distribucin de probabilidad de xi sea constante y con una media P y
una varianza 2. Teniendo en cuenta el teorema del lmite central, veremos
que la distribu- cin aproximada de la media de la muestra ser

 que es normal con la media y la varianza (1/n)2. Al

igual que en los casos de grficos X de control de
procesos, cuando no se conozcan los valores reales de
los parmetros P y 2, pueden obtenerse estimaciones
aceptables de las mismas muestras. Estas estimaciones
son:
estimado de P =X = media de las medias de la muestra
estimado de = o bien s , desviacin estndar de la
muestra, o bienR /d2, como se utilizaba en los grficos
XyR

 Si la caracterstica est sujeta a un lmite superior U, el

porcentaje de elementos inaceptables del lote (aquellos
que superan el lmite superior) aparece marcada en la
zona rayada pu de la Figura 14.1. Si la curva de la
Figura 14.1 fuera la distribucin exacta de X, pu ser
exactamente la fraccin defectuosa del lote.
Cuando la curva es nicamente una estimacin basada
en las observaciones realizadas sobre la muestra, pu es
tambin una estimacin. El criterio para la

 Una medida alternativa de la fraccin de elementos que

son defectuosos es z, o, lo que es lo mismo, cuntas
desviaciones estndar estimadas separan el lmite U de
las especificaciones del promedio de la muestra X :

Esto nos permite formular una definicin alternativa del

plan de muestreo de variables mediante los nmeros n
= tamao de la muestra, y k = mnimo de desviaciones
estndar que deben separar U y X .

OPERACIN DE UN PLAN DE
MUESTREO DE VARIABLES

 Cuando existen lmites de especificacin, tanto superior

como inferior, los criterios de aceptacin se modifican
del modo siguiente: 1. En la forma 1 ambos (U X )/ y
(X L)/G deben ser mayores que k. 2. En la forma 2 se
calculan valores separados de pu y p1 La suma ou + p1
debe ser menor que M.

MIL-STD-414: PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO Y TABLAS

PARA INSPECCIN POR VARIABLES PARA PORCENTAJES
DE ELEMENTOS DEFECTUOSOS1
Aunque hay muchas fuentes autorizadas de planes de
muestreo de acepta- cin por variables, slo nos
referiremos detalladamente en este captulo a MIL- STD414 1. Lo mismo que MIL-STD-105D, este documento se
ha convertido en norma tanto para la industria privada
como para el gobierno. MIL-STD-414 tiene cuatro
secciones: A, B, C y D.

 La seccin A incluye una descripcin general de los

planes de muestreo. Es- tablece medidas para el uso de
los planes, para la clasificacin de los defectos, la
expresin de no conformidad, el nivel de calidad
aceptable (AQL), presenta- cin del producto,
aceptabilidad de lotes, seleccin de muestras, clculo
de la calidad media, cambios en la severidad de la
inspeccin y procedimientos espe- ciales para la
aplicacin de planes mixtos de muestreo por atributos y
varia- bles. Con las adiciones y cambios exigidos por las
interpretaciones de variables, las instrucciones para la
administracin de tales planes son bsicamente las
mismas que en MIL-STD-105D.

 La seccin A incluye tambin una tabla de conversin de AQL (Tabla 14.2) y una para la
seleccin del nivel de inspeccin segn el tamao del lote (Tabla A 15.1). Si no se dice lo
contrario, el nivel prescrito es el IV. Es evidente que niveles mayores implican planes ms
rigurosos. Las letras-cdigo en la tabla indican el tamao de muestra que debe tomarse.
La seccin A incluye las curvas caractersticas operativas para todos los planes. Hay 14
AQL que se pueden usar. Estos AQL son consistentes con los empleados en MIL-STD105D. Los administradores pueden, una vez determinado el AQL y la letra- cdigo para el
tamao de la muestra, consultar esta seccin y observar los riesgos presentes en la
aplicacin del plan. La Figura 14.2 es parte de la Tabla A-3 de MIL-STD-414 y muestra las
curvas OC para la letra-cdigo K con AQL de 1,0; 1,5; 2,5; 4,0; 6,5; 10,0 y 15,0. Las
curvas OC fueron derivadas de los planes a desconocidos de la seccin B, pero, como
dijimos, son fundamental- mente equivalentes a los planes ' conocidos. En las
instrucciones, se ordena el uso de planes desconocidos de la seccin B con clculo de
desviacin estn- dar si no se especifica algo en contrario. La seccin B incluye
instrucciones para aplicacin de planes de desviacin estndar desconocida para lmites
de especificacin nicos y dobles; tablas maestras para inspeccin normal, rigurosa y
reducida; tablas para el clculo del

 porcentaje de elementos defectuosos del lote usando el

mtodo de la desviacin estndar; instrucciones y
tablas para el clculo de la calidad media; criterios para
inspeccin reducida y rigurosa; valores de F para MSD
(desviacin estn- dar mxima); y ejemplos de clculos.
Estos aparecen en las Tablas A15.1 a A15.9.

 Al igual que MIL-STD-105D, el estndar MIL-STD-414

prev la posibili- dad de inspeccin reducida y rigurosa.
Las condiciones para implantar inspec- cin reducida
son las siguientes: Condicin A: Los diez (10) lotes
precedentes (o cualquier otra cantidad de lotes que se
especifique) han estado sujetos a inspeccin normal y
ninguno ha sido rechazado. Condicin B: El porcentaje
estimado de elementos defectuosos de cada uno de los
lotes precedentes es meno que el lmite inferior
aplicable segn la Tabla A15.7; o, para ciertos planes, el
porcentaje estimado de elementos defectuosos del lote
es igual a cero durante una cantidad especificada de
lotes consecutivos (vase Tabla A 15.7). Condicin C: La

 Se vuelve a la inspeccin normal si se produce

cualquiera de las condiciones siguientes mientras se
trabaja bajo inspeccin reducida. Condicin D: Se
rechaza un lote. Condicin E: El valor estimado de la
media del proceso es mayor que AQL. Condicin F: La
produccin se hace irregular o se retrasa. Condicin G:
Cualquier otra condicin que avale el que se vuelva a
reim- plantar la inspeccin normal. La inspeccin
rigurosa se implanta cuando el valor estimado de la
media del proceso, calculado a partir de los 10 lotes
precedentes (o cualquier otra

 Ejemplo 14.2 Se compran filtros de aire en lotes de 600 unidades. Si

AQL es 1,0, determinar los planes de muestreo de inspeccin normal
usando: a) MIL-STD-414 con forma 1 y nivel IV de inspeccin; b) MILSTD-105D con nivel II de inspeccin general y muestreo nico. a) La
letra-cdigo es J. Segn la Tabla Al5.2 el plan de muestreo es n = 30, k
= 1,86. b) La letra-cdigo es la misma J. Segn la Tabla A 14.2 el plan de
muestreo es n= 80 y c = 2. Dado que ambos planes estn proyectados
para dar similares niveles de proteccin, el uso del plan de variables
tiene ventaja. El tamao de la muestra es 30 en vez de 80 en el plan de
atributos. Sin embargo, podra llevar a error y a la conclusin de que el
muestreo de variables es siempre ms econmico. La inspeccin de
muestreo es slo uno de los elementos que componen el costo. Qu
procedimiento es el ms barato slo puede decidirse luego de haber
considerado todos los factores. Esto se ilustra en el ejemplo 14.3.

 Ejemplo 14.3 Cualquiera de los planes de muestreo mostrados en la

Tabla 14.3 dar una protec- cin equivalente. Los costos se pueden
clasificar del modo siguiente: 1. Gastos generales: Son independientes
del tamao de la muestra. Incluyen el costo de administracin y partes
de los costos de registro y clculo. Para un plan con 'conocida, el costo
de mantener informacin actualizada con respec- to al valor de 'ha de
ser incluido. Esto se puede hacer utilizando un grfico de control para
intervalos. 2. Muestreo:Los mismos por unidad con independencia del
plan que se use. 3. Inspeccin: Ser generalmente mucho ms cara por
unidad la inspeccin por variables, puesto que medir cuesta ms que
tomar una decisin sobre atributos. 4. Clculo: Esto slo supone el costo
insignificante de contar en un plan de atributos, calcular una media en
un plan de variables con 'conocida, y una media y una desviacin
estndar (o intervalo medio) para un plan de variables conadesconocida